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SN74BCT8374ADWRG4

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SN74BCT8374ADWRG4

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記述: IC スキャン 試験装置 24SOIC
連絡先

SN74BCT8374ADWRG4

説明
カテゴリー: 集積回路 (IC) 論理 特殊論理 ビットの数: 8
製品の状況: 時代遅れ マウントタイプ: 表面マウント
パッケージ: テープ&ロール (TR) シリーズ: 74BCT
ロジックタイプ: D型エッジ誘発式フリップフラップを搭載したスキャン試験装置 供給者のデバイスパッケージ: 24-SOIC
Mfr: テキサス・インストラクション 動作温度: 0°C ~ 70°C
供給電圧: 4.5V~5.5V パッケージ/ケース: 24-SOIC (0.295インチ、幅7.50mm)
基本製品番号: 74BCT8374

D型エッジ・トリガー・フリップ・フラップIC 24-SOICを搭載したスキャン試験装置

タグ:

バストランシーバーIC,

カスタム集積回路,

集積回路 ic

連絡先の詳細
SHENZHEN ECER NETWORK TECHNOLOGY CO.,LTD

コンタクトパーソン: Miss. Coral

電話番号: +86 15211040646

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