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SN74ABT8245DWG4

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SN74ABT8245DWG4

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記述: IC スキャン 試験装置 24SOIC
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SN74ABT8245DWG4

説明
カテゴリー: 集積回路 (IC) 論理 特殊論理 ビットの数: 8
製品の状況: Digi-Keyで発売中止 マウントタイプ: 表面マウント
パッケージ: トューブ シリーズ: 74ABT
ロジックタイプ: バス トランシーバーを使用したスキャン テスト デバイス 供給者のデバイスパッケージ: 24-SOIC
Mfr: テキサス・インストラクション 動作温度: -40°C ~ 85°C
供給電圧: 4.5V~5.5V パッケージ/ケース: 24-SOIC (0.295インチ、幅7.50mm)
基本製品番号: 74ABT8245

バストランシーバーIC24-SOICを搭載したスキャン試験装置

タグ:

バストランシーバーIC,

カスタム集積回路,

集積回路 ic

連絡先の詳細
SHENZHEN ECER NETWORK TECHNOLOGY CO.,LTD

コンタクトパーソン: Miss. Coral

電話番号: +86 15211040646

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右角 FH19C-20S-0.5SH ((05) 0.5mm ピッチのフラットフレックスコネクタ

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